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       檢驗，生產(chǎn)，設(shè)計過程中，常常都會碰到貼片電容容值偏低的問題。主要的因素有哪些?

　　1、量測儀器差異對量測結(jié)果的影響：大容量的電容(通常指1UF以上)測量時更容易出現(xiàn)容值偏低的現(xiàn)象，造成這種現(xiàn)象的主要原因是施加在電容兩端的實際電壓不能達(dá)到測試條件所需求的電壓，這是因為加在電容兩端的測試電壓由于儀器內(nèi)部阻抗分壓的原因與實際顯示的設(shè)定電壓不一致。為了使測量結(jié)果誤差降到最低,我們建議將儀器調(diào)校并盡量把儀器的設(shè)定電壓跟實際加在電容兩端所測的電壓盡量調(diào)整,使實際于待測電容上輸?shù)某鲭妷阂恢隆?

　　2、測試條件對量測結(jié)果的影響：首先考慮測量條件的問題，對于不同容值的貼片電容會采用不同的測試條件來測量容值，主要在測試電壓的設(shè)定和測試頻率的設(shè)定上有區(qū)別，下表所示為不同容值的量測條件:

　　電容 AC 電壓 頻率

　　容量>10μF 1.0± 0.2Vrms 120Hz

　　1000pF<容量≦10μF 1.0± 0.2Vrms 1kHz

　　容量≦ 1000pF 1.0± 0.2Vrms 1MHz

　　3、測量環(huán)境條件對量測結(jié)果的影響：貼片陶瓷電容(X7R/X5R/Y5V)系列產(chǎn)品被稱為非溫度補償性元件,即在不同的工作溫度環(huán)境下,電容量會有比較顯著的變化，在不同的工作溫度下，電容標(biāo)稱容值與實際容值之間的差異。例如，在40℃時的測試容量將比25℃時的測試容量低了接近20%。由此可以看出，在外部環(huán)境溫度比較高的情況下,電容容值的測試值就會顯的偏低。我們通常建議放置在20℃的環(huán)境下一段時間,使材料處于穩(wěn)定的測試環(huán)境下再進(jìn)行容值測試。

　　4、MLCC產(chǎn)品材料老化現(xiàn)象：材料老化是指電容的容值隨著時間降低的現(xiàn)象，這再所有以鐵電系材料做介電質(zhì)的材料產(chǎn)品中均有發(fā)生，是一種自然的不可避免的現(xiàn)象。原因是因為內(nèi)部晶體結(jié)構(gòu)隨溫度和時間產(chǎn)生了變化導(dǎo)致了容值的下降，屬于可逆現(xiàn)象。當(dāng)對老化的材料施加高于材料居里溫度段時間后(建議進(jìn)行容值恢復(fù)所使用之條件為150℃/1hour)，當(dāng)環(huán)境溫度恢復(fù)到常溫后(常溫25℃下放置24小時),材料的分子結(jié)構(gòu)將會回到原始的狀態(tài)。材料將由此開始老化的又一個循環(huán)，貼片電容的容值將恢復(fù)到正常規(guī)格之內(nèi)